4XC-W Համակարգչային մետաղապղոտ մանրադիտակի ակնարկ
4XC-W Համակարգչային մետալուրգիական մանրադիտակը եռագույն շրջադարձային մետալուրգիական մանրադիտակ է, որը հագեցած է հիանալի երկարաժամկետ կիզակետային երկարությամբ պլանի, Acromatic օբյեկտիվ ոսպնյակներ եւ տեսարանի պլանի մեծ դաշտ: Ապրանքը կոմպակտ է կառուցվածքի մեջ, հարմար եւ հարմարավետ է գործելու համար: Այն հարմար է մետալոգրաֆիական կառուցվածքի եւ մակերեսային ձեւաբանության մանրադիտակային դիտարկման համար եւ իդեալական գործիք է մետալաբանության, հանքարդյունաբերության եւ ճշգրիտ ինժեներական հետազոտությունների համար:
Դիտորդական համակարգ
Hinged դիտորդական խողովակ. Binocular դիտորդական խողովակ, կարգավորելի մեկ տեսիլք, ոսպնյակների խողովակի 30 ° թեքություն, հարմարավետ եւ գեղեցիկ: Տրինոկուլային դիտման խողովակ, որը կարող է միացված լինել խցիկի սարքի հետ: Eyepiece. WF10X խոշոր դաշտային պլանի ակնապակտ, φ18 մմ դիտարանի տեսանկյունից, ապահովելով լայն եւ հարթ դիտորդական տարածք:
Մեխանիկական փուլ
Մեխանիկական շարժվող փուլը ունի ներկառուցված պտտվող շրջանաձեւ բեկոր, իսկ շրջանաձեւ բեմական ափսեը պտտվում է բեւեռացված լույսի դիտարկման պահին `բեւեռացված թեթեւ մանրադիտակների պահանջները բավարարելու համար:
Լուսավորության համակարգ
Օգտագործելով կոլայի լուսավորության մեթոդը, բացվածքի դիֆրագմը եւ դաշտի դիֆրագմը կարող են ճշգրտվել հավաքագրմամբ, իսկ ճշգրտումը հարթ եւ հարմարավետ է: Ընտրովի բեւեռացուցիչը կարող է 90 ° -ով կարգավորել բեւեռացման անկյան տակ `տարբեր բեւեռացման պետություններում մանրադիտակային պատկերներ դիտարկելու համար:
Բնութագրում
| Բնութագրում | Մոդել | |
| Նյութ | Մանրամասներ | 4xc-w |
| Օպտիկական համակարգ | Վերջնական ազատման շտկման օպտիկական համակարգ | · |
| Դիտարկման խողովակ | Hinged երկչոտ խողովակ, 30 ° թեքություն; Տրինոկուլային խողովակ, կարգավորելի ինտերպիլային հեռավորություն եւ դիոպեր: | · |
| Աչքի տակ (տեսադաշտի մեծ դաշտ) | WF10X (φ18 մմ) | · |
| WF16X (φ11 մմ) | O | |
| WF10x (φ18 մմ) խաչմերուկի տիրակալով | O | |
| Ստանդարտ օբյեկտիվ ոսպնյակներ(Երկար նետում պլանի achromatic նպատակներ) | Pl l 10x / 0.25 WD8.90 մմ | · |
| Pl l 20x / 0.40 WD3.75 մմ | · | |
| Pl l 40x / 0.65 WD2.69 մմ | · | |
| SP 100x / 0.90 WD0.44 մմ | · | |
| Ընտրովի օբյեկտիվ ոսպնյակներ(Երկար նետում պլանի achromatic նպատակներ) | Pl l50x / 0.70 WD2.02 մմ | O |
| Pl l 60x / 0.75 WD1.34MM | O | |
| Pl l 80x / 0.80 WD0.96 մմ | O | |
| Pl l 100x / 0.85 WD0.4 մմ | O | |
| փոխարկիչ | Ball Inner դիրքավորող չորս փոս փոխարկիչ | · |
| Ball Inner դիրքավորումը հինգ անցքի փոխարկիչ | O | |
| Կենտրոնանալով մեխանիզմը | Coaxial Focus ճշգրտումը կոպիտ եւ նուրբ շարժումով, նուրբ ճշգրտման արժեք `0.002 մմ; ինսուլտ (բեմի մակերեւույթի կենտրոնից), 30 մմ: Կոպիտ շարժում եւ լարվածություն կարգավորելի, կողպեքի եւ սահմանափակումների միջոցով | · |
| Բեմ | Կրկնակի շերտ մեխանիկական բջջային տեսակը (Չափը, 180 մմ x150 մմ, շարժվող միջակայք `15 մմ x15 մմ) | · |
| Լուսավորության համակարգ | 6v 20w հալոգեն թեթեւ, կարգավորելի պայծառություն | · |
| Բեւեռացնող պարագաներ | Անալիզատոր խումբ, բեւեռացնող խումբ | O |
| Գույնի ֆիլտր | Դեղին ֆիլտր, կանաչ ֆիլտր, կապույտ ֆիլտր | · |
| Մետալոգրաֆիական վերլուծության համակարգ | JX2016MetAllographic Analysity ծրագրակազմ, 3 միլիոն ֆոտոխցիկի սարք, 0.5x ադապտեր ոսպնյակի միջերես, միկրոմետր | · |
| PC | HP բիզնես համակարգիչ | O |
Նշում. «· «Ստանդարտ կազմաձեւում է»:O "պարտադիր չէ
JX2016 Metallographic Image Analysis Ծրագրաշարի ակնարկ
«Մասնագիտական քանակական մետաղաքարային պատկերների վերլուծություն համակարգչային օպերացիոն համակարգը» կազմաձեւված է մետալոգրաֆիական պատկերների վերլուծության համակարգի գործընթացներով եւ իրական ժամանակի համեմատության, հայտնաբերման, վարկանիշի, վերլուծության, վիճակագրության եւ հավաքված նմուշների քարտեզների արդյունքի գծապատկերների հաշվետվություններ: Ծրագիրը ինտեգրվում է այսօրվա պատկերների վերլուծության այսօրվա առաջադեմ տեխնոլոգիան, որը Metallographic Microscope- ի եւ խելացի վերլուծության տեխնոլոգիայի հիանալի համադրություն է: DL / DJ / ASTM եւ այլն): Համակարգն ունի բոլոր չինական միջերեսները, որոնք հակիրճ են, պարզ եւ հեշտ: Պարզ մարզվելուց կամ հրահանգների ձեռնարկին հղում կատարելուց հետո կարող եք այն ազատորեն գործարկել: Եվ այն արագ մեթոդ է տալիս մետաղալոգրաֆիական ընդհանուր իմաստ եւ ժողովրդական գործողություններ սովորելու համար:
JX2016 Metallographic Image Analysis- ի ծրագրային գործառույթներ
Պատկերի խմբագրման ծրագրակազմ: Ավելի քան տասը գործառույթ, ինչպիսիք են պատկերի ձեռքբերումը եւ պատկերի պահպանումը.
Պատկերի ծրագրակազմ: Ավելի քան տասը գործառույթներ, ինչպիսիք են պատկերի բարելավումը, պատկերի ծածկը եւ այլն;
Պատկերի չափման ծրագիրՏասնյակ չափիչ գործառույթներ, ինչպիսիք են պարագիծը, տարածքը եւ տոկոսային պարունակությունը.
Արդյունքի ռեժիմՏվյալների աղյուսակի ելք, histogram ելք, պատկերի տպման արտադրանք:
Նվիրված մետալոգրաֆիական ծրագրակազմ
Հացահատիկի չափի չափում եւ վարկանիշ (հացահատիկի սահմանի արդյունահանման, հացահատիկի սահմանի վերակառուցում, մեկ փուլ, երկակի փուլ, հացահատիկի չափի չափում, վարկանիշ);
Ոչ մետաղական ներառությունների չափում եւ վարկանիշ (ներառյալ սուլֆիդներ, օքսիդներ, սիլիկատներ եւ այլն);
Մարգարիտ եւ ֆերական բովանդակության չափում եւ վարկանիշ. Ductile երկաթե գրաֆիտի հանգույցի չափում եւ վարկանիշ.
Debarburization շերտ, խնամված շերտի չափում, մակերեսային ծածկույթի հաստության չափում;
Եռակցման խորության չափում;
Ֆարիտային եւ օստենիտային չժանգոտվող պողպատների փուլային տարածքի չափում;
Բարձր սիլիկոնային ալյումինե խառնուրդի առաջնային սիլիկոնային սիլիկոնի վերլուծություն;
Titanium խառնուրդի նյութերի վերլուծություն ... եւ այլն;
Պարունակում է մոտ 600 տարածված մետաղական նյութերի մետալոգրաֆիկ ատլասներ համեմատության համար, բավարարելով մետալոգրաֆիկ վերլուծության եւ մեծամասնության ստուգման պահանջները.
Հաշվի առնելով նոր նյութերի եւ ներմուծվող դասարանի նյութերի շարունակական բարձրացումը, նյութերը եւ գնահատման ստանդարտները, որոնք չեն մուտքագրվել ծրագրակազմում, կարող են հարմարեցվել եւ մուտքագրվել:
JX2016 Metallographic Image Analysis- ի ծրագրային ապահովման գործարկման քայլեր
1: Մոդուլի ընտրություն
2-ը: Սարքավորումների պարամետրերի ընտրություն
3: Պատկերի ձեռքբերում
4. Տեսադաշտի ընտրությունը
5. Վարկանիշի մակարդակ
6. Ստեղծեք զեկույցներ
